Основы структурного анализа химических соединений - Учебное пособие 2 изд.
Порай-Кошиц Михаил Александрович
Порай-Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений - Учебное пособие 2 изд. 1989 [djvu 192sc 1.74mb]
Аннотация издательства: Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. Предназначается для студентов химических специальностей университетов.
Категорії:
Рік:
1989
Видання:
2 переработанное и дополненное
Видавництво:
Высшая школа
Мова:
russian
Сторінки:
192
ISBN 10:
5060000745
ISBN 13:
9785060000740
Файл:
DJVU, 1.74 MB
IPFS:
,
russian, 1989